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UNIV15TAUniVista Tespert YIELD 精准高效的良率分析工具
UniVista Tespert YIELD是一款专注于半导体制造和设计领域的良率分析和提升工具。它以图形用户界面（Graphical User Interface，GUI）为核心，提供从缺陷分析到根因定位的全流程解决方案，帮助工程师快速定位良率问题，缩短良率提升周期。
넶78 2025-07-04 -
UniVista Tespert ATPG 更高，更快，更直观的芯片测试平台
UniVista Tespert ATPG集成了优化的库单元提取工具，高效的并行多线程引擎，直观易用的图形界面，同时支持基于硬件的高效测试向量压缩技术，能够为各种类型的芯片提供优质高效的测试方案。
넶64 2025-07-04 -
UniVista Debugger Plus（UVD+） 下一代全功能高效能数字验证调试平台
UniVista Debugger Plus (UVD+) 作为新一代全功能调试平台，基于全自研创新架构构建，通过高性能波形引擎、智能源码追踪与高效原理图分析等核心组件，实现数字验证调试全场景的无缝覆盖，为芯片上市周期加速提供关键支撑。
넶135 2025-07-04 -
UNIV1STAUniVista Simulator Plus（UVS+）下一代全功能高性能仿真器
UniVista Simulator Plus（简称“UVS+”）是下一代全功能高性能仿真器。基于前代UVS架构深度重构，融合创新算法与国产化技术栈，全面支持Verilog、SystemVerilog、UVM、SDF等主流标准及验证方法学，并支持UPF、SystemC、数模混仿、X-prop等高阶功能，提供从RTL到门级、数模混合到低功耗验证的全流程解决方案。实测性能比肩国际领先工具，能够全方位、深层次地覆盖从模块级到超大规模SoC系统级的验证需求，为芯片设计企业提供坚实可靠的技术支撑。
넶168 2025-07-04
