SiP 给设计公司带来的挑战
由于在性能、体积和成本等各方面的均衡和优异表现,越来越多的封装厂、系统和IC公司纷纷开始或者正在考虑布局SiP产品研发,但面对这一先进技术的开发,很多公司都碰到了不小的难题和挑战。
SiP及3D-IC为代表的先进封装是一个集成了各种有源和无源器件的复杂高性能系统,普遍具有多芯片集成、三维芯片堆叠、先进封装工艺等带来的诸多技术上的挑战。
与单片集成电路相比,SiP内部复杂的封装结构和各种芯片,元件的组合结构对热应力、机械应力和电磁干扰更加敏感,容易失效。在循环弯曲、坠落等机械应力的作用下,SiP的主要失效点集中在焊点位置,特别是当塑封的硬度较大时。SiP产品具有复杂的互连系统。焊点的可靠性与异质材料之间电气和机械连接的可靠性有关,这在很大程度上决定了产品的质量。
协同设计仿真挑战
复杂的封装结构
失效的焊点
测试的复杂度
裸芯的供应链
CHALLENGE