▶ 数模混合SiP;
▶ Wire bonding 121 BGA;
▶ 实测SiP中的模拟小信号受到干扰,影响系统正常运行;
▶ 对SiP封装设计进行3D建模,提取关键模拟信号与时钟信号的S参数,并查看频域串扰;
▶ 时域查看串扰,查看串扰频谱确定干扰源为基板内的时钟信号;
▶ 优化版图与去耦设计,隔离模拟小信号与时钟信号,优化后查看串扰,频谱量级大幅下降;
▶ 客户按照优化方法修改设计重新投板,实测干扰问题得到解决;
(PDN阻抗)
(S参数-串扰)
(串扰频谱)
(时域串扰)
(优化后串扰频谱)